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ターゲット
半導体デバイス,LSI,電源,インタフェース,メモリ,電気機器,携帯端末,ICモジュール,ESD試験,TLP,CMTI
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利用シーン
HPPI社製品は、パルス高電流および高電圧時間領域での半導体デバイスおよび回路の特性評価を可能にします。
システムの開発は、半導体デバイス、統合された高速および無線周波数回路、および半導体業界向けのESD保護ソリューションを持っています。
標準TLP、超高速TLP およびヒューマン メタル モデル (HMM)、ヒューマン ボディ モデル (HBM)、および電荷結合TLP (CC-TLP)を1つのテスト システムに組み合わせて、今日のESDおよびデバイス特性評価のニーズのほとんどをカバーします。具体的には、パルス動作モードでの大電流IV 特性、デバイスのターンオン/オフ過渡特性、ブレークダウン効果、電荷回復効果 (逆回復など)、安全動作領域 (SOA)、およびESD測定があります。 -
製品の特徴
■ TLP/CMTIパルス発生器
TLP-3010C パルス発生器 (オプションのパルス幅エクステンダ TLP-3011C 付き) は、半導体業界で広く使用されている、パルス発生・検出部のフル機能セット30Aモデル です。
TLP-4010C (オプションのパルス幅エクステンダ TLP-3011C を使用) により、出力電流は40Aです。
TLP-8010A (オプションのパルス幅エクステンダTLP-8012A5を使用) は、最大500nsの手動パルス幅設定を含み、80Aの高出力電流が可能です。
TLP-8010C (オプションのTLP-8012A5および/またはTLP-3011Cエクステンダー付き) は、TLP-8010AとTLP-4010Cの機能セットを組み合わせた 80A TLP/VF-TLP/HMM テストシステムです。
TLP-12010C (オプションの TLP-12012A6 および/または TLP-3011C エクステンダー付き) は、TLP-12010A と TLP-4010C の機能セットを 1 つのシステムに組み合わせた、最先端の 120 A TLP/VF-TLP/HMM テスト システムです。
CMTIは、IEC-60747-5-5 および IEC-60747-17 に準拠したデジタル・アイソレータの静的および動的な同相過渡耐性 (CMTI) の評価用に最適化された高電圧・50Ωパルス発生器です。
CMTI-8010C は、最大20,000V/nsの超高速CMTIスルーレートを実現しています。
カタログPDF |
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