絶縁材料の耐久評価 寿命予測のためのV-t試験 JFEテクノリサーチ

V-t試験(Voltage-time Testing)は、高分子材料やプリント配線板(PWB)等の絶縁材料に対し、その絶縁耐力の時間的安定性を評価する方法です。理論自体は半世紀以前から利用されており、近年では、パワーモジュールや電池材料に代表される、小型で大電力を長期間制御するデバイスの発展に伴い、その重要性が再認識されています。