体積抵抗率/表面抵抗率/絶縁抵抗測定 ケミトックス

【プリント配線板メーカー】
・基板材料の絶縁性能評価
・表面絶縁信頼性評価
・開発品・量産品の品質確認

【高分子材料メーカー】
・樹脂、フィルム、シート、ゴム等の電気特性評価
・材料開発時の性能比較
・品質管理・規格適合確認

【電子部品包装材メーカー】
・導電トレー
・キャリアテープ
・梱包フィルム
・搬送容器
などの静電気対策性能評価

【絶縁材料メーカー】
・絶縁スリーブ
・絶縁チューブ
・絶縁シート
・絶縁フィルム
などの絶縁性能評価

環境試験と組み合わせて試験前後での劣化の確認なども可能です。また、特殊形状のサンプルにも柔軟に対応いたします。

【プリント配線板・高分子材料の体積抵抗率/表面抵抗率測定】
絶縁性能を評価します。
表面抵抗測定ではサンプル表層に、体積抵抗測定では 層間(厚み方向)に電流が流れるように電圧を印加します。

【絶縁スリーブ・チューブの体積抵抗率測定】
二重リング法ではセッティングできない、絶縁スリーブやチューブ等の特殊形状サンプルの体積抵抗率測定にも対応しています。

【導電性材料の抵抗測定】
電子機器の包装は、製造・輸送・保管中における物理的・環境的損傷の防止を目的としています。しかし、通常の包装材は静電気を蓄積・放電する可能性があり、静電気に敏感な電子部品(ESDS)に重大な損傷を与えることがあります。このような静電気による損傷を防ぐための包装材の材料特性評価します。

【絶縁抵抗測定】
体積抵抗および表面抵抗を含んだ銅張積層板の沿層絶縁抵抗測定をはじめ、プリント配線板のパターン間の絶縁抵抗測定、電子部品・製品における2点間の絶縁抵抗測定について対応可能です。

電圧を印加した際に、サンプル内部または表面を通じて流れる電流量を測定し、サンプルおよび電極条件に基づいて体積抵抗率/表面抵抗を算出します。ケミトックスでは、1.0E17Ωまでの幅広い範囲の絶縁抵抗値を測定することが可能です。また、温湿度試験器と組み合わせることにより、各種温湿度環境下における評価も可能です。

○各種規格に対応
JIS C2139-3-1、JIS C2139-3-2、JIS C2139-3-3
JIS C5012
JIS C5016
JIS C6471
JIS C6481
JIS K6911
ASTM D257
IPC-TM-650 2.5.17、IPC-TM-650 2.5.17.1
IEC60684-2
ANSI/ESD STM11.11、ANSI/ESD STM11.12、ANSI/ESD STM11.13
RCJS-5-1

○各種温湿度環境に対応
恒温恒湿環境下
低湿度環境(15%RH以下)

○その他個別規格にも柔軟に対応
電極の形成や個別規格での試験など、幅広い試験条件に対応可能です。
絶縁スリーブやチューブ等の特殊形状サンプルの測定にも対応しております。