SiCパワー半導体のAC-BTI試験（DGS試験／GSS試験）【パワーエレクトロニクス】 OKIエンジニアリング

【概要】
SiC MOSFETには、Si MOSFETでは見られない固有の劣化モード（AC-BTI）が存在します。これは、スイッチング動作によりゲートにACストレスが加わることで、しきい値電圧がシフトする現象です。しきい値電圧のシフトは、オン抵抗の変動につながり、電動車におけるEV航続距離に影響します。本変動を評価するAC-BTI試験により、デバイスの信頼性確保や、部品選定および製品設計に必要な情報の取得をサポートします。
【特長】
・国際規格に準拠した信頼性試験が可能
　JEITA EDR-4713 附属書E,JEDEC JEP195,AQC324,CASA T/CASAS 045-2024
・自由度の高い試験が可能
・短納期で再現性の高い試験サービスが提供可能
＃詳細は、お問い合わせもしくは、リアル展示会場にて、ご説明させていただきます。