TECHNO-FRONTIER 2026 ロゴ

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会 期
2026年7月15日(水)〜17日(金)
会 場
東京ビッグサイト 西1・2・3ホール

V-t試験 ケミトックス

  • 試験・計測機器
  • 半導体
  • 車載
  • 民生
  • 絶縁体
  • 測定施設
  • ターゲット

    ・高耐圧・高信頼性製品
    EV・HEV向けパワーデバイスやパワーモジュール、産業機器、電源機器、高電圧機器など。

    ・絶縁材料・基板材料の研究開発
    プリント配線板メーカー、基板材料メーカー、封止材メーカー、電子部品メーカーにおいて、新規材料の採用検討や信頼性評価。

    近年の高電圧化・高出力化・高密度実装化により、絶縁材料にはこれまで以上に高い信頼性が求められています。本サービスは、材料選定から品質保証まで、製品寿命予測や信頼性評価に関する課題解決を支援します。

  • 利用シーン

    ・新規材料の比較・選定
    絶縁材料や封止材、基板材料の候補について、長期的な絶縁性能を比較評価し、最適な材料選定に活用できます。

    ・製品開発・設計段階での寿命予測
    V-t(Voltage-time)試験により、印加電圧と絶縁破壊時間の関係を取得し、実使用電圧における絶縁寿命を推定します。設計マージンの設定や信頼性設計の根拠データとしてご利用いただけます。

    ・高温高湿環境での耐久性評価
    85℃/85%RHをはじめとした加速劣化環境下で試験を実施し、市場環境を想定した長期信頼性評価を行います。

    ・不具合解析・品質改善
    絶縁劣化や絶縁破壊に関する課題に対し、劣化挙動の把握や寿命予測を通じて品質向上や再発防止に役立つデータをご提供します。

  • 製品の特徴

    ・実使用を想定した寿命推定
    印加電圧と絶縁破壊時間の関係からV-t特性を取得し、実際の使用電圧条件における絶縁材料の寿命を推定できます。単なる耐電圧試験では把握できない時間依存の劣化評価が可能です。

    ・高電圧評価に対応
    AC/DC10kVまでの電圧印加が可能で、高耐圧用途の絶縁材料や基板構造の評価に対応します。

    ・絶縁劣化挙動を詳細に評価
    マイグレーションテスタを使用することで、微小電流測定により、絶縁破壊の発生だけでなく、劣化の進行過程を詳細にモニタリングできます。

    ・多様なサンプルに対応
    プリント基板、セラミック基板、メタルベース基板をはじめ、各種絶縁樹脂やフィルム材料など幅広い材料に対応しています。

    ・試験計画から解析までワンストップ対応
    評価目的や製品構造に応じた試験条件の提案から、試験実施、データ解析まで一貫して対応します。初めてV-t試験を実施されるお客様も安心してご利用いただけます。

サイズ・容量 ・試験環境:-40~260℃/20~98%RH
・最大印加電圧:AC(50/60 Hz)10 kV/DC10 kV
カタログPDF

ケミトックス

https://www.chemitox.co.jp/
  • 国内出展者
  • リアル展
  • TECHNO-FRONTIER 2026
  • パワーエレクトロニクス技術展
  • ブース番号 1-N34